性能特點
■ *台符合LXI標準的LCR表
■ 測試頻率20Hz～5MHz，10mHz步進
■ 測試電平10mV～5V, 1mV步進
■ 基本準確度0.1%
■ Z高達200次/s的測量速度
■ 320×240點陣大型圖形LCD顯示
■ 五位讀數分辨率
■ 可測量22種阻抗參數組合
■ 四種信號源輸出阻抗
■ 10點列表

產品型號：TH2826
廠商性質：代理商
更新時間：2025-02-25
訪問量：1520

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產品詳情

簡要介紹

■ TH2826係列元件測試儀(yi) 是*台符合LXI標準的新一代阻抗測試儀(yi) 器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率範圍可以滿足元件與(yu) 材料絕大部分低壓參數的測量要求，可廣泛應用於(yu) 諸如傳(chuan) 聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。

■ TH2826係列產(chan) 品超高速的測試速度使其特別適用於(yu) 自動生產(chan) 線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個(ge) 電感變壓器廠家的不同標準需求。

■ TH2826係列產(chan) 品以其的性能可以實現商業(ye) 標準如IEC和MIL標準的各種測試。

廣泛的測量對象

無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。半導體(ti) 元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體(ti) 管或集成電路的寄生參數分析其它元件：印製電路板、繼電器、開關(guan) 、電纜、電池等的阻抗評估介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估磁性材料：鐵氧體(ti) 、非晶體(ti) 和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估半導體(ti) 材料：半導體(ti) 材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性

技術參數

測試參數	C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率	TH2826	20 Hz～5MHz,10mHz步進
測試信號電	f≤1MHz	10mV～5V,±（10%+10mV）
平	f>1MHz	10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度	0.1%
	L	0.0001 uH ～ 9.9999kH
	C	0.0001 pF ～ 9.9999F
	R,X,Z,DCR	0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
顯示範圍	Y, B, G	0.0001 nS ～ 99.999 S
	D	0.0001 ～ 9.9999
	Q	0.0001 ～ 99999
	θ	-179.99°～ 179.99°
測量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準功能	開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準
等效方式	串聯方式, 並聯方式
量程方式	自動, 保持
顯示方式	直讀, Δ, Δ%
觸發方式	內(nei) 部, 手動, 外部, 總線
內(nei) 部直流偏	電壓模式	-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
置源	電流模式（內(nei) 阻為(wei) 50Ω）	-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能	10檔分選及計數功能
顯示器	320×240點陣圖形LCD顯示
存儲(chu) 器	可保存20組儀(yi) 器設定值
	USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
	USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口	LAN(LXI class C support)
	RS232C
	HANDLER
	GPIB（選件）

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